首页> 中国专利> 一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置及方法

一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置及方法

摘要

本发明公开一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置及方法,该装置包括傅里叶红外光谱仪、黑体辐射源、转换光路、加热装置、样品腔装置、导轨、数据采集器及个人计算机,所述傅里叶红外光谱仪与第一个人计算机连接;所述的黑体辐射源由数字式PID控制器控制;加热装置由温度控制器控制;样品腔放置在导轨上,半透明样品固定在样品腔上,且样品的表面固定一个热电偶,该热电偶与数据采集器连接,而数据采集器与第二个人计算机相连。本发明通过快速移动的样品消除加热装置对半透明材料发射率测量的背景辐射来测量发射率,发射率测量原理与不透明材料发射率测量原理一致;装置设计构造简洁,操作步骤简便,测量精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN107727247B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201711150898.0

  • 发明设计人 谭洪;段小伟;周茜;

    申请日2017-11-18

  • 分类号G01J5/52(20060101);G01J5/06(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人唐代盛

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2022-08-23 10:36:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-12

    授权

    授权

  • 2018-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/52 申请日:20171118

    实质审查的生效

  • 2018-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/52 申请日:20171118

    实质审查的生效

  • 2018-02-23

    公开

    公开

  • 2018-02-23

    公开

    公开

  • 2018-02-23

    公开

    公开

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