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测试腔、HPM传输波导击穿实验装置及研究击穿问题的方法

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摘要

鉴于对HPM源中的强电磁场真空击穿问题研究的必要性和击穿机理研究的困难，本发明提供了一种测试腔、HPM传输波导击穿实验装置以及利用该装置研究击穿问题的方法。其中测试腔包括两个相同的反射腔；反射腔的内腔为圆筒状，反射腔的半径r

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1. 测试腔、HPM传输波导击穿实验装置及研究击穿问题的方法 [P] . 中国专利： CN107238784B . 2019.06.07
2. 测试腔、HPM传输波导击穿实验装置及研究击穿问题的方法 [P] . 中国专利： CN107238784A . 2017-10-10
3. APPARATUS FOR TESTING RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND ELECTRONIC DEVICES AND SUBASSEMBLIES AGAINST ELECTRIC SURGESEHLEMENTOV,KOMPONENTOV I EHLEKTRONNYKH USTROJJSTV E EHLEKTROUDARAM [P] . PL120681B1 . 1982-03-31

机译：用于测试电子元件和电子设备以及亚电子组件的电阻的装置，该电子组件和电子组件可用于电子浪涌，电子击穿，电子击穿，电子击穿
4. APPARATUS FOR TESTING RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND ELECTRONIC DEVICES AND SUBASSEMBLIES AGAINST ELECTRIC SURGESEHLEMENTOV,KOMPONENTOV I EHLEKTRONNYKH USTROJJSTV E EHLEKTROUDARAM [P] . PL207883A1 . 1980-03-10

机译：用于测试电子元件和电子设备以及亚电子组件的电阻的装置，该电子组件和电子组件可用于电子浪涌，电子击穿，电子击穿，电子击穿
5. STATIC ELECTRICITY BREAKDOWN VOLTAGE TEST METHOD AND STATIC ELECTRICITY BREAKDOWN VOLTAGE TEST DEVICE [P] . 日本专利： JP2016138820A . 2016-08-04

机译：静电击穿电压测试方法和静电击穿电压测试装置