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函括格点边缘区域图形数据的版图特征参数提取方法

摘要

本发明提供了一种函括格点边缘区域图形数据的版图特征参数提取方法,包括:对原始设计版图数据进行至少四次格点划分,而且,在格点划分的同时,将格点的所有边由图形内向外扩展,扩展后即形成了环状区域;区分格点内的图形与格点边缘图形;计算格点内的图形进行权重线宽、图形周长、图形密度,得到计算结果和影响因子定位;计算格点边缘区域的图形进行权重线宽、图形周长、图形密度,得到计算结果和影响因子定位;计算所有格点的几何特征参数值。

著录项

  • 公开/公告号CN106021707B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201610327932.6

  • 申请日2016-05-17

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人智云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-03

    授权

    授权

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160517

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20160517

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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