首页> 中国专利> 一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法

一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法

摘要

本发明一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法:1:获取不同类型的辐射源的电磁场探头测试电磁场强度矩阵Fi;2:利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真,获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh1;3:对比矩阵Fi和Fieh1,确定仿真模型。4:利用仿真软件对辐射源在观察平面Pz上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真,获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵Fieh0。5:对比矩阵Fieh1和Fieh0;两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。本发明得到的数据可对工程中电磁场探头测试的数据进行修正,提高电磁场探头测试结果的可信度,保证仿真过程中建模的准确度,保证结果数据只受到是否存在探头的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN106053965B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201610537802.5

  • 发明设计人 阎照文;刘伟;李兵;苏东林;

    申请日2016-07-08

  • 分类号G01R29/08(20060101);G01R35/00(20060101);

  • 代理机构11232 北京慧泉知识产权代理有限公司;

  • 代理人王顺荣;唐爱华

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 10:22:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-04

    授权

    授权

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/08 申请日:20160708

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 29/08 申请日:20160708

    实质审查的生效

  • 2016-10-26

    公开

    公开

  • 2016-10-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号