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基于FPGA的红外焦平面阵列盲元检测系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于FPGA的红外焦平面阵列盲元检测系统及方法。该系统包括两点参数计算和存取模块、基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测模块、基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测模块、盲元集合表存储更新模块和盲元补偿模块。检测方法为:将原始的数字图像信号进行两点参数的解算,得到两点参数矩阵并存入FPGA的内部RAM;对两点参数矩阵分别进行基于增益矩阵K的掩膜滑动窗口盲元检测和基于偏置矩阵B的二次3σ盲元检测,并将两次盲元检测的结果合并得到盲元集合表;调整检测温度重复以上步骤得到对应于不同温度的盲元集合表,将不同温度对应的盲元集合表进行整理合并用于后续补偿。本发明检测效率高、质量好,能够减少检测中的漏判盲元。

著录项

  • 公开/公告号CN104515599B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201310456821.1

  • 申请日2013-09-29

  • 分类号G01J5/10(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人朱显国

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2022-08-23 10:16:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-04

    授权

    授权

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/10 申请日:20130929

    实质审查的生效

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/10 申请日:20130929

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    公开

    公开

  • 2015-04-15

    公开

    公开

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