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基于Zeeman-双折射双频激光器的光回馈测距仪

摘要

基于Zeeman-双折射双频激光器的光回馈测距仪属于激光测距技术领域。其特征在于,该测距仪由光源,测量部分和信号处理3个部分组成。测量过程中,通过激光器腔调谐实现激光器内腔模式的变换,同时对激光器进行光回馈信号的探测。激光器工作在双纵模时的光强调制深度与工作在单模时的光强调制深度的差别与外腔长有关。当外腔长为激光器腔长整数倍时,该调制深度差别最小;而当外腔长逐渐偏离激光器腔长整数倍时,该调制深度差别逐渐变大。本发明利用该特性来确定外腔反射镜位置而实现距离测量。本发明所设计的光回馈测距仪是一种结构紧凑简单紧凑,并且无需控制光回馈水平的激光测距仪。

著录项

  • 公开/公告号CN1312488C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-04-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN200510011514.8

  • 发明设计人 刘刚;张书练;

    申请日2005-04-01

  • 分类号G01S17/08(20060101);G01C3/00(20060101);H01S3/08(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100084 北京市北京100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S 17/08 授权公告日:20070425 终止日期:20150401 申请日:20050401

    专利权的终止

  • 2007-04-25

    授权

    授权

  • 2005-11-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-09-07

    公开

    公开

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