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基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法

摘要

本发明提供基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法,将一束准直扩束光束分为两路,并且透射准直光束的指向不变,通过双路旋转式轴向指向可调分光系统,可实现分光光路绕透射光轴夹角锥面旋转,通过鬼像测试,可得到待测光学系统的三维空间鬼像位置的分布,另外,也可在光学镜头设计阶段对鬼像分布进行测量,及时对光学镜头进行调整,避免后期光学系统鬼像的出现;可以通过主控系统的调整,自动、快速的获取光学系统形成鬼像的入射光位置以及能量,测试过程稳定、可靠,并能极大的提高测试效率,非常适合在工程测试中应用。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-28

    授权

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  • 2017-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20160824

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    公开

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