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一种基于光载射频链路的微波源相位噪声测量装置

摘要

本发明公开了一种基于光载射频链路的微波源相位噪声测量装置,包括激光器、光纤、电吸收调制器、光栅、微波功分器、微波分频器、环形器、傅里叶分析仪、波长控制器;待测微波源经过微波功分器分为第一微波信号与第二微波信号,第一微波信号经过微波分频器后调制激光器,产生第一调制光信号,第二微波信号经过环形器后进入电吸收调制器,并对光纤延时后的第一调制光信号进行调制产生第二调制光信号;第二调制光信号经过光栅的反射后形成最终调制光信号,并经电吸收调制器将光信号转换为电信号后经环形器输入到傅里叶分析仪,处理得到相噪数据;本发明装置具有结构简单、灵敏度高、偏振无关、带宽大等优势。

著录项

  • 公开/公告号CN106341182B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201610833264.4

  • 申请日2016-09-20

  • 分类号H04B10/079(20130101);

  • 代理机构33224 杭州天勤知识产权代理有限公司;

  • 代理人胡红娟

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-24

    授权

    授权

  • 2017-02-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B10/079 申请日:20160920

    实质审查的生效

  • 2017-01-18

    公开

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