首页> 中国专利> 消除颤振影响和按压伪影的采集电路及延迟采集方法

消除颤振影响和按压伪影的采集电路及延迟采集方法

摘要

本发明提供一种消除颤振影响和按压伪影的采集电路及延迟采集方法,包括:振动传感器;微处理器模块;现场可编程门阵列;非晶硅平板以及电荷积分放大及采集模块。实时检测平板探测器受到的按压和颤振,并据此产生振动触发信号;在采集窗口未检测到振动触发信号时,门驱动使能信号正常打开,逐行读出并采集信号;在采集窗口检测到振动触发信号时,门驱动使能信号关闭,延时采集信号;当振动触发信号结束后,门驱动使能信号打开,继续进行采集。本发明针对探测器在颤振时出现横条纹的缺陷,通过振动探测和延时采集和多次拼图的时序驱动方式,减少了振动和按压的影响,能够得到优质的X光亮场校正图,适用于颤振落在平板探测器工作时序的任意时刻。

著录项

  • 公开/公告号CN105890628B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海奕瑞光电子科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201610210858.X

  • 发明设计人 林言成;马扬喜;

    申请日2016-04-06

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人余明伟

  • 地址 201201 上海市浦东新区张江高科技产业东区瑞庆路590号9幢2层202室

  • 入库时间 2022-08-23 10:12:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-08

    授权

    授权

  • 2017-12-19

    著录事项变更 IPC(主分类):G01D3/028 变更前: 变更后: 申请日:20160406

    著录事项变更

  • 2016-09-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D3/028 申请日:20160406

    实质审查的生效

  • 2016-08-24

    公开

    公开

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