修复控制电路和使用修复控制电路的半导体集成电路

摘要

本发明提供了一种能够减少测试时间的修复控制电路和使用修复控制电路的半导体集成电路。所述半导体集成电路包括：多个存储块，其中布置有多个字线；多个字线驱动器，所述多个字线驱动器响应于多个存储块选择信号而驱动多个字线中的一个或更多个；以及修复控制电路，所述修复控制电路通过将响应于剩余地址和所述多个存储块选择信号而产生的修复地址与外部地址进行比较来判定是否执行修复。