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荷电粒子束装置、试样观察系统

摘要

本发明提供一种荷电粒子束装置、试样观察系统。该荷电粒子束装置具备控制荷电粒子束装置的处理部,该荷电粒子束装置通过对试样照射一次电子束,取得与上述试样相关的信息,上述处理部使图像显示部显示表示当前的上述一次电子束的照射状态的图。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-15

    授权

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  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/22 申请日:20130315

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    公开

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