基于高光谱技术的叶面降尘量测定方法

摘要

本发明涉及一种基于高光谱技术的叶面降尘量测定方法，其首先采集具有不同叶面降尘量的健康叶片，快速测定单叶片的光谱信息，将测完光谱信息的叶片于室内利用叶面积仪、电子天平获取其叶面降尘量数据，通过高光谱信息与叶面降尘量数据之间的相关性分析，确定叶面降尘的敏感光谱波段；利用叶面降尘的敏感波段数据进行建模，选取均方根误差最小、决定系数及样本标准差与预测均方根误差最大的模型作为最佳模型，该模型只需叶片的高光谱信息即可预测出其叶面降尘量。本发明相对于传统测定方法来说，减少了室内的叶面积测定、清洗、称重等繁琐的实验步骤，具有简便、快速的有点同时为航天高光谱遥感对降尘区沙尘暴强度及环境质量的监测提供了借鉴。