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双向多步De Bruijn图的错误双向边识别与去除方法

摘要

本发明公开一种双向多步De Bruijn图的错误双向边识别与去除方法,包括步骤,S1、读取测序数据源文件,并构造双向多步De Bruijn图;S2、统计整个所述双向多步De Bruijn图的所有双向边的加权平均覆盖度W;S3、遍历整个所述双向多步De Bruijn图的所有边,将覆盖度小于平均覆盖度W的0.25倍的双向边确定为错误双向边,并将其去除。本发明可以部分清除De Bruijn图中普遍存在的错误,上述错误包括错误链接、Tip型错误、泡型错误;将使contigs可以继续延长,De Bruijn图继续收缩;可以有效的发现错误的双向边,而且避免对正确的双向边的破坏,从而可以一定程度上提高contigs的长度,提高contig的质量。

著录项

  • 公开/公告号CN103714263B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN201310672170.X

  • 申请日2013-12-10

  • 分类号

  • 代理机构深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人沈祖锋

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-13

    授权

    授权

  • 2014-05-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 19/10 申请日:20131210

    实质审查的生效

  • 2014-04-09

    公开

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