空间效应试验系统以及测试器件空间效应的方法

摘要

本申请提供一种空间效应试验板，包括处理器、与所述处理器关联的控制模块、与所述控制模块关联的检测模块、以及与所述检测模块和所述控制模块关联的用于承载Flash型FPGA器件的适配器，处理器根据主控单元的指令向所述控制模块发出相应的测试信号，控制模块根据该测试信号激励适配器承载的Flash型FPGA器件，并控制检测模块获取适配器承载的Flash型FPGA器件的输出电流信息/逻辑编码，检测模块将获取到的电流信息/逻辑编码传输至处理器，并经处理器处理后反馈至主控单元。另外，本申请还公开了一种空间效应试验系统和测试Flash型FPGA器件空间效应的方法。其可以准确地记录被测Flash型FPGA器件在何时发生了单粒子闩锁或单粒子翻转。能够帮助试验人员有效地评估被测Flash型FPGA器件的性能。