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太赫兹吸收谱的测试样品架、切换式测试系统和测试方法

摘要

本发明提供一种太赫兹吸收谱的测试样品架、切换式测试系统和测试方法。用于解决现有的太赫兹吸收谱测量方法所存在的由于太赫兹波强度的起伏造成测试所得的样品吸收谱的重复性、一致性差的问题。本发明提供的测试样品架包括可旋转的转盘,所述转盘开有大小一致的样品孔和参考孔,样品孔和参考孔中心均位于以转盘的旋转轴为中心的同一圆周上;所述样品孔用于放置待测试的样品。上述测试样品架用于太赫兹吸收谱测试系统中,结合切换式测试流程,可以通过转动样品架上的转盘,交替地测取参考时域谱、样品时域谱上各点,由于参考时域谱和样品时域谱同步交叉测得,太赫兹波起伏的影响会在一定程度上被抵消,改善了吸收谱的重复性,提高了一致性。

著录项

  • 公开/公告号CN104614315B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN201510023233.8

  • 发明设计人 张朝晖;赵小燕;张天尧;张寒;

    申请日2015-01-16

  • 分类号

  • 代理机构北京市广友专利事务所有限责任公司;

  • 代理人张仲波

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-17

    授权

    授权

  • 2015-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20150116

    实质审查的生效

  • 2015-05-13

    公开

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