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实现两种模式的MIPI模组测试方法和测试系统

摘要

本发明公开了一种实现两种模式的MIPI模组测试方法和测试系统,用于VIDEO模式和COMMAND模式MIPI模组的出厂前配置测试。本发明的优点包括:能够实现VIDEO模式和COMMAND模式两种模式MIPI模组的点屏测试;针对COMMAND模式的MIPI模组,通过FPGA生成图像数据,MCU通过FPGA转发MIPI模组的寄存器配置参数,可以实现寄存器配置参数和图像数据在同一个通道进行发送;除了基本的点屏测试功能,本技术方案提供了COMMAND模式MIPI模组的Vcom调节、模组ID读取和保存、MTP数据编辑和烧录等多种测试功能,适应了MIPI生产过程中的多种需求。

著录项

  • 公开/公告号CN104360511B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉精测电子技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201410691289.6

  • 发明设计人 彭骞;邹峰;雷程程;陈凯;沈亚非;

    申请日2014-11-25

  • 分类号G02F1/13(20060101);

  • 代理机构42104 武汉开元知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄行军;刘琳

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:50:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-20

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G02F 1/13 变更前: 变更后: 申请日:20141125

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2017-01-18

    授权

    授权

  • 2017-01-18

    授权

    授权

  • 2015-03-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/13 申请日:20141125

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/13 申请日:20141125

    实质审查的生效

  • 2015-02-18

    公开

    公开

  • 2015-02-18

    公开

    公开

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