首页> 中国专利> 电极结构及半导体器件

电极结构及半导体器件

摘要

本实用新型提供了一种电极结构及半导体器件,在所述电极结构中,多晶硅层、第一金属层和第二金属层依次堆叠,且所述第二金属层的外边缘短于所述第一金属层的外边缘,由此可以使得第一金属层隔离在第二金属层与多晶硅层之间,拉长了第二金属层与多晶硅层构成的电极间距离,进而在后续BOE腐蚀工艺中能够大大削弱电极间的电场强度,减缓电子向多晶硅层迁移的速率,有效阻断多晶硅层的电化学反应,保护多晶硅在后续BOE腐蚀工艺免遭电化学腐蚀,最终提高了器件性能。

著录项

  • 公开/公告号CN215680677U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202121683975.0

  • 发明设计人 魏丹珠;

    申请日2021-07-22

  • 分类号H01L23/488(20060101);B81B7/00(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周耀君

  • 地址 312000 浙江省绍兴市皋埠镇临江路518号

  • 入库时间 2022-08-23 04:19:26

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号