首页> 中国专利> 一种利用线激光实现侧边和平面特征同时量测的结构

一种利用线激光实现侧边和平面特征同时量测的结构

摘要

本实用新型涉及型腔类产品的测量设备技术领域,尤其涉及一种利用线激光实现侧边和平面特征同时量测的结构,包括安装板,安装板上固定有用于扫描被测产品的平面特征的线激光扫描组件以及用于将被测产品的侧面特征进行光路折返至线激光扫描组件的棱镜,线激光扫描组件外接有计算软件。采用这样的结构设置,增加一个棱镜,在线激光扫描组件的激光线宽范围内通过棱镜折返能够实现侧边测量,然后根据测量需求调节棱镜的位置实现,侧边与平面的同时测量。

著录项

  • 公开/公告号CN215064316U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市智信精密仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN202120212212.1

  • 发明设计人 黄启来;巫景文;

    申请日2021-01-26

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构44405 深圳市徽正知识产权代理有限公司;

  • 代理人卢杏艳

  • 地址 518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区2号一层

  • 入库时间 2022-08-23 02:56:13

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号