公开/公告号CN215449354U
专利类型实用新型
公开/公告日2022-01-07
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳市派捷电子科技有限公司;
申请/专利号CN202121581857.9
发明设计人 王礼忠;
申请日2021-07-12
分类号G01R1/04(20060101);G01R31/28(20060101);
代理机构44288 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙);
代理人孙柳
地址 518000 广东省深圳市宝安区新安街道大浪社区23区大宝路一巷友谊大厦202-A
入库时间 2022-08-23 02:49:48
机译: 测试设备,包括测试设备的测试系统,使用该测试设备和测试系统的测试方法以及制造集成电路的方法
机译: 测试设备测试系统,包括使用该测试设备的相同测试方法以及该测试系统和用于制造集成电路的方法
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数