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公开/公告号CN213693704U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-07-13
原文格式PDF
申请/专利权人 北京世维通光智能科技有限公司;
申请/专利号CN202022847514.4
发明设计人 赖家仓;肖浩;王强龙;刘东伟;刘博阳;李建光;雷军;
申请日2020-12-02
分类号H04B10/073(20130101);H04B10/548(20130101);
代理机构11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人汤东凤
地址 100000 北京市海淀区上地十街1号院2号楼11层1108
入库时间 2022-08-22 22:51:58
机译: 基于PZT阵列超声波传感器的机械性能测量系统
机译: 用于确定PZT振动器的机电耦合特性的测量系统
机译:基于双PZT相位调制器的相干光束组合系统
机译:使用同轴PZT膜的光纤相位调制器
机译:基于PZT的结构健康监测的新型阻抗测量系统
机译:混合PZT / Si TM / TE电光相位调制器
机译:一种用于霍尔效应推进器的非侵入式霍尔电流分布测量系统。
机译:勘误:Aulestia VieraM。等。一种基于时频声发射的技术通过PZT换能器评估陶瓷磨削中的工件表面质量。传感器2019193913
机译:Hybrid PZT / SI TM / TE电光相位调制器
机译:一种改进的低非线性失真相位调制器