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一种PZT相位调制器调制深度测量系统

摘要

本实用新型涉及一种PZT相位调制器调制深度测量系统,包括光源探测模块、待测PZT调制模块、PZT驱动模块和信号解调模块,所述待测PZT调制模块第一端与光源探测模块连接、另一端与PZT驱动模块连接,所述信号解调模块的两端分别与光源探测模块和PZT驱动模块连接;该PZT相位调制器调制深度测量系统运用了保偏光纤进行光波信号传输,减弱光纤中晶体双折射效应,以保证入射光的偏振态长时间不变,保证了光波信号的精确采集;对一束正交偏振光进行解调,通过解调二者相差的方式增强了有用信号的幅值,提高了数据采集精度。

著录项

  • 公开/公告号CN213693704U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京世维通光智能科技有限公司;

    申请/专利号CN202022847514.4

  • 申请日2020-12-02

  • 分类号H04B10/073(20130101);H04B10/548(20130101);

  • 代理机构11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人汤东凤

  • 地址 100000 北京市海淀区上地十街1号院2号楼11层1108

  • 入库时间 2022-08-22 22:51:58

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