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阵列天线校准装置和阵列天线校准方法

摘要

本发明提供一种结构简单且不昂贵,而且能同时保证阵列天线精确校准的阵列天线校准装置。这种阵列天线校准装置包括供给源装置,用于提供原始的校准信号分别给一组组成天线阵列的天线单元,原始校准信号在天线单元间互相正交;相位和幅度特性计算装置,用于计算从天线单元发射并被邻近天线单元接收的校准信号和有关接收的校准信号的原始校准信号之间的相关;相关校准因子计算装置,用于根据各天线单元的相位和幅度特性获得构成阵列天线的所有天线单元间的相关校准因子;校准装置,根据相关校准因子将供给的发射信号校准到各天线单元。

著录项

  • 公开/公告号CN1207574C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本电气株式会社;

    申请/专利号CN03102791.1

  • 发明设计人 平部正司;

    申请日2003-01-21

  • 分类号G01S7/40;H01Q3/26;H01Q21/00;G01R29/10;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人戎志敏

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S7/40 授权公告日:20050622 终止日期:20190121 申请日:20030121

    专利权的终止

  • 2005-06-22

    授权

    授权

  • 2005-06-22

    授权

    授权

  • 2003-10-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-10-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-08-06

    公开

    公开

  • 2003-08-06

    公开

    公开

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