微晶结构分析装置、微晶结构分析方法和X射线遮蔽装置

摘要

本发明提供了一种微晶结构分析装置、微晶结构分析方法和X射线遮蔽装置，借此即使在伪单晶样本旋转的同时用X射线照射该样本也能够获得良好的X射线衍射图像。该微晶结构分析装置(1)包括：磁场发射单元(12)；样本驱动单元(13)，其相对于磁场发射单元(12)旋转；样本容器(2)，其容纳有其中悬浮了微晶(3)的样本，使得随时间波动的磁场被施加到样本容器(2)并且微晶(3)被三维取向；X射线源(21)，其用X射线(a)来照射被样本驱动单元(13)驱动而旋转的样本容器(2)；X射线检测器单元(23)，其能够检测穿过样本容器(2)并被衍射的X射线(a)；和状态切换装置(G)，其根据作为所述样本容器(2)的一部分的特定场所(2a)在旋转方向上的位置，在X射线(a)不能被X射线检测器单元(23)检测到的状态与X射线(a)可以被X射线检测器单元(23)检测到的状态之间切换。