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一种高精度实验室用万分之一天平

摘要

本实用新型公开了一种高精度实验室用万分之一天平,包括底座和第一连接杆,所述底座的上方设置有放置层,且放置层的中部设置有放置盘,所述放置盘下方设置有电磁传感器,所述底座的左侧设置有数据显示装置,所述第一连接杆的上方设置有第二连接杆,且第二连接杆的中部固定有固定板,所述固定板的上方安装有风机,且风机的下方连接有吸尘罩,并且风机的上方与集尘瓶相连接,所述放置盘的下方安装有阻尼减震器。该高精度实验室用万分之一天平,设置有风机,能够通过吸尘罩,将放置盘表面残留的固体颗粒或粉吸到集尘瓶中,进而避免固体颗粒或粉末影响到该天平的称量,进而提高了该装置的精确度。

著录项

  • 公开/公告号CN208238902U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津南开和成科技有限公司;

    申请/专利号CN201820404572.X

  • 发明设计人 张艳平;吕敬;孙强;蒙国明;

    申请日2018-03-24

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 300000 天津市滨海新区大港石化园区凯旋街969-6号

  • 入库时间 2022-08-22 07:25:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    授权

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