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在光谱分析仪中同时检测校准信号和测试信号的光学系统

摘要

一种光学系统,通过光隔离的光路将光信号耦合到分立的光检测器上,以对光谱分析仪中的校准信号和测试信号一起进行检测。成对的光纤对称设在光轴任一边,供与一边的输入光纤和另一边的输出光纤准直的光学元件之用。输入光纤分别接收校准信号和测试信号,输出光纤与各检测器连接。光校准源产生处在光学系统第一级光谱范围内的第二级或以上的谱线。衍射光栅将测试信号的第一级光谱分量传送给一个检测器,将校准信号的第二级或以上的谱线从准直光学元件传送给另一检测器。对来自检测器的电信号数字化并进行处理,获得校正误差,以用于校正由光谱分析仪显示的测试信号。

著录项

  • 公开/公告号CN1196917C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 特克特朗尼克公司;

    申请/专利号CN01104753.4

  • 发明设计人 D·R·安德森;

    申请日2001-02-21

  • 分类号G01J3/28;G01J3/36;G01J3/02;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张志醒

  • 地址 美国俄勒冈州

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-07-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 3/28 授权公告日:20050413 申请日:20010221

    专利权的终止

  • 2005-04-13

    授权

    授权

  • 2002-10-09

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2001-10-24

    公开

    公开

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