首页> 中国专利> 单孔径多重成像的光学成像测距装置

单孔径多重成像的光学成像测距装置

摘要

一种单孔径多重成像的光学成像测距装置,其特征在于构成:同光轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器,该光电探测器的输出端接数字图像处理器,所述的成像主透镜与多重成像元件紧贴在一起,所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字图像,提取物体的深度信息的数据处理软件。本实用新型只需单次成像,即可获得完备的成像,而且系统结构紧凑,易于装配,不需要复杂的相机定位和标定,测距算法简单,可快速地获得物体的深度信息。

著录项

  • 公开/公告号CN201043890Y

    专利类型

  • 公开/公告日2008-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200620047908.9

  • 申请日2006-11-17

  • 分类号G01C3/00(20060101);G01C3/08(20060101);G02B27/00(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-21 22:57:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-09-16

    专利权的主动放弃

    专利权的主动放弃

  • 2008-04-02

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号