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公开/公告号CN201043890Y
专利类型
公开/公告日2008-04-02
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN200620047908.9
发明设计人 阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋;
申请日2006-11-17
分类号G01C3/00(20060101);G01C3/08(20060101);G02B27/00(20060101);
代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;
代理人张泽纯
地址 201800 上海市800-211邮政信箱
入库时间 2022-08-21 22:57:53
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2009-09-16
专利权的主动放弃
2008-04-02
授权
机译: 高孔径的光学成像系统技术领域本发明涉及一种高孔径的光学成像系统,特别是用于显微镜的光学成像系统。
机译: 高孔径光学成像系统技术领域本发明涉及一种高孔径光学成像系统,特别是用于在宽波长范围内具有复消色差校正的显微镜
机译: 空间和光谱滤波孔径和光学成像系统包括相同的孔和光学成像系统
机译:机动目标的稀疏孔径逆合成孔径雷达成像,补偿了通过测距单元的迁移
机译:宽视场共孔径多光谱和偏振光学成像系统的光学设计
机译:使用汉宁振幅滤波器的不同孔径的变迹散焦光学成像系统
机译:光学孔径光学孔径使用光学成像(第2报告)工具的位置检测研究
机译:时间分辨高光谱压缩单像素宽场光学成像
机译:纳米孔径集成的单配体传输的实时传感微流体装置
机译:用于评估月球激光测距的单,中空和大孔径后向反射器的热光模拟和实验
机译:相干多孔径光学成像系统:分析与设计