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MOS晶体管及其形成方法、SRAM存储单元电路

摘要

一种MOS晶体管及其形成方法、SRAM存储单元电路,所述MOS晶体管包括:半导体衬底,位于所述半导体衬底表面的栅极结构,位于所述栅极结构一侧的半导体衬底内的第一沟槽和位于所述栅极结构另一侧的半导体衬底内的第二沟槽,所述第一沟槽和第二沟槽内填充满应力材料,且所述第一沟槽的侧壁与半导体衬底表面垂直,第二沟槽的侧壁向沟道区一侧突出。由于所述第一沟槽的侧壁与半导体衬底表面垂直,第二沟槽的侧壁向沟道区一侧突出,所述MOS晶体管的沟道区受到的应力不对称,使得所述MOS晶体管的不同电流方向饱和源漏电流不同,利用所述MOS晶体管作为SRAM存储单元电路的传输晶体管,可以同时提高SRAM的读取裕度和写入裕度。

著录项

  • 公开/公告号CN103515434B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210214272.2

  • 发明设计人 甘正浩;冯军宏;

    申请日2012-06-26

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人骆苏华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-06

    授权

    授权

  • 2014-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20120626

    实质审查的生效

  • 2014-01-15

    公开

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