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一种面向精密装配的基于熵理论的平面形状误差检测方法

摘要

本发明公开了一种面向精密装配的基于熵理论的平面形状误差评定方法,对零件表面进行测量,将各测量点高度值视为随机变量所有可能取值的概率。结合熵函数具有可以评价随机变量所有可能取值出现概率的均匀性的特点,利用熵函数对平面形状误差分布均匀性作总体初评价。如果评价结果显示该平面的形状误差对装配精度的影响不可忽略,需要进一步对平面进行凸点和接触凸域搜索,并分别评价凸点高度和位置分布均匀性以及接触凸域平缓程度,据此建立平面形状误差分布均匀性综合评价指标,以此评价面向精密装配的平面形状误差。本发明可以揭示平面形状误差分布均匀性与装配精度及其稳定性之间的关系,进而为提高装配精度和优化装配工艺提供指导。

著录项

  • 公开/公告号CN103047959B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201310019433.7

  • 申请日2013-01-18

  • 分类号G01B21/30(20060101);G01B21/20(20060101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人杨志兵;高燕燕

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 09:29:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-30

    授权

    授权

  • 2013-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/30 申请日:20130118

    实质审查的生效

  • 2013-04-17

    公开

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