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单片集成耦合腔窄线宽半导体激光器

摘要

本发明公开了一种单片集成耦合腔窄线宽半导体激光器,包括:基底;缓冲层,形成于该基底之上;下限制层,形成于该缓冲层之上;多量子阱有源层,形成于该下限制层的左端之上;波导层,形成于该下限制层的右端之上;相移光栅层,形成于该多量子阱有源层之上;均匀布拉格光栅层,形成于该波导层之上;上限制层,形成于该有源叠层、该对接区及该无源叠层之上;刻蚀阻止层,形成于该上限制层之上;欧姆接触层,形成于该刻蚀阻止层的左端之上;P电极层,形成于该欧姆接触层之上;以及N电极层,形成于该基底的背面。利用本发明,避免了传统的利用外腔压窄线宽结构的跳模危险,实现频率的稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN103346475B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201310211088.7

  • 申请日2013-05-31

  • 分类号H01S5/12(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-15

    授权

    授权

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S 5/12 申请日:20130531

    实质审查的生效

  • 2013-10-09

    公开

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