面向BIT软件测试的存储器故障注入方法及其模拟器

摘要

本发明提出一种面向BIT软件测试的存储器故障注入方法及其模拟器，将运行BIT软件的硬件电路板作为模拟器的模拟对象。本发明在模拟器中新增：模拟存储器正常功能的模拟模块，建立并解析故障序列文件的故障建模及模型解析模块，匹配代注入故障的故障注入模块，故障行为模拟模块和外围交联环境仿真模块。本发明方法通过建立故障模式库，编写并解析XML故障序列文件为模拟器可识别的故障序列，在处理器访问存储器时查找相应故障并注入，当触发故障时进行故障模拟。本发明注入的故障模式种类较全，充分覆盖了涉及存储器下的每种故障发生下的测试用例，可对电路板级BIT软件进行较为充分的测试，而只有进行了充分测试的BIT软件。