一种测量单极性电阻式存储器工作寿命的方法

摘要

本发明涉及一种测量单极性电阻式存储器工作寿命的方法。目前还没有测试单极性电阻式存储器工作寿命的方法。本发明方法通过判断单极性电阻式存储器经过Set或Reset过程后是否损坏来实现。具体是观测单极性电阻式存储器在Set或Reset过程中是否有跳变信号，从零开始增加电压，如果在Set过程中能够观测到向上的跳变信号或者在Reset过程中观测到向下的跳变信号，表明器件没有损坏，否则就表明器件已经损坏。循环进行Set或Reset过程，统计损坏前的Set过程的总次数，即为单极性电阻式存储器的工作寿命。本方法通过简单的方法，实现了对单极性电阻存储器特性及工作寿命的测试。