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一种拉格朗日高斯光束古依相位参量测量方法

摘要

本发明涉及一种拉格朗日高斯光束古依相位参量测量方法。现有技术光路结构复杂、受到光束相干性限制、无法实现高灵敏度和高数值孔径光学系统中的测量。本发明利用拉格朗日高斯光束的波前振幅调制技术,对光束波前进行扇形遮光调制,并将光束径向参数选定为零,此时光束经过会聚后形成含有一个缺口的圆环形光斑,利用近场光学技术探测含有一个缺口的圆环形光斑,缺口中心对应的方位角参量为基模光束的古依相位,经过简单计算得到不同传播位置上的任意拉格朗日高斯光束的古依相位。本发明方法具有实现简单、结构定位要求低、可靠性高、抗干扰性强、可实现高灵敏度直接测量、可以测量高数值孔径光学系统中的古依相位参量、应用范围广等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN102393254B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量学院;

    申请/专利号CN201110242919.8

  • 发明设计人 李劲松;

    申请日2011-08-23

  • 分类号G01J9/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 9/00 授权公告日:20130814 终止日期:20140823 申请日:20110823

    专利权的终止

  • 2013-08-14

    授权

    授权

  • 2012-05-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 9/00 申请日:20110823

    实质审查的生效

  • 2012-03-28

    公开

    公开

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