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用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法

摘要

本发明公开了一种用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法,首先将待测样品超声洗净,使用气体吹干,然后选择坩埚进行熔料,该熔料过程在石英管中进行通入惰性气体防止氧化,温度为高于待测样品熔点温度,保证其充分融化停止加热,在惰性气体保护下自然冷却,再使用线切割机将坩埚高出待测样品的部分切掉,使坩埚外壁不高于待测样品顶面,使用清洗剂将待测样表面处理干净,吹干,即可得到满足测试要求的样品,本发明可较容易的解决量少的易碎样品在使用ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试过程中,难以制样及样品易碎裂导致测试信号不稳定、断流、无法正常测试的问题,降低了该类样品的制样难度和检测难度,提高了测试的成功率及准确性。

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  • 法律状态公告日

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    法律状态

  • 2022-03-01

    公开

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