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工艺腔室、半导体工艺设备和半导体工艺方法

摘要

本发明提供一种应用于半导体工艺设备的工艺腔室,包括传输腔和位于传输腔上方的多个反应腔,多个反应腔均通过底部开口与传输腔连通,工艺腔室中的多个基座可在反应腔与传输腔之间升降,还包括设置在传输腔底壁上的传输机构和承载机构,传输机构用于将晶圆由工艺腔室外部转移至承载机构或多个基座上,以及将多个基座上的晶圆传出工艺腔室,承载机构用于承载多片晶圆,并在传输机构取走多个基座上的晶圆后,将其所承载的多片晶圆转移至多个基座上。在本发明中,传输机构能够先将下一批晶圆传输至承载机构上,承载机构在半导体工艺结束后将其承载的晶圆转移至基座上,节约了晶圆传输时间。本发明还提供一种半导体工艺设备和半导体工艺方法。

著录项

  • 公开/公告号CN113972154A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京北方华创微电子装备有限公司;

    申请/专利号CN202111219963.7

  • 发明设计人 迟文凯;王勇飞;

    申请日2021-10-20

  • 分类号H01L21/67(20060101);H01L21/677(20060101);H01L21/683(20060101);

  • 代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人彭瑞欣;王婷

  • 地址 100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号

  • 入库时间 2023-06-19 14:00:21

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