一种基于偏置的优化排样方法

摘要

本发明公开了一种基于偏置的优化排样方法，包括：输入所有待排样零件组集合和已排样的轮廓组集合；对已排样的轮廓组集合，依次通过扩张偏置、合并操作以及收缩偏置，得到收缩偏置轮廓组集合；逐一取待排样零件的外轮廓与收缩偏置轮廓组集合中的轮廓进行计算，得出最佳的排样位置；每完成一个零件的排样后将该零件从待排样零件组集合中删除，并更新收缩偏置轮廓组集合。本发明方法稳定可靠，效率高，鲁棒性强。