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一种低散射涂层双向反射分布函数高精度测量装置

摘要

本发明提供一种低散射涂层双向反射分布函数高精度测量装置,其包含:激光发射模块、光子模态探测接收模块、半球空间滑动测量系统;所述激光发射模块可产生两路激光光束,一路为探测光束,另一路为泵浦光束,分别通过两路不同的光纤通道传输给光子模态探测接收模块;所述半球空间滑动测量系统,其设置有低散射涂层平面,使探测光束产生半球空间的散射光束,采用不同类型的圆形轨道以实现低散射涂层半球空间双向反射分布函数的测量;所述光子模态探测接收模块包含:光子模态转换晶体,利用光子模态转换晶体滤除与泵浦光束不同的噪声光子,从根本上滤除噪声,提升测量精度。本发明具有测量精度高,测量速度快,准确率高,测试成本低等优势。

著录项

  • 公开/公告号CN113607694A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海无线电设备研究所;

    申请/专利号CN202110878953.8

  • 申请日2021-08-02

  • 分类号G01N21/49(20060101);

  • 代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐雯琼;张妍

  • 地址 200233 上海市闵行区中春路1555号

  • 入库时间 2023-06-19 13:09:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-19

    授权

    发明专利权授予

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