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公开/公告号CN113607694A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-05
原文格式PDF
申请/专利权人 上海无线电设备研究所;
申请/专利号CN202110878953.8
发明设计人 霍熠炜;张玉涛;王彪;朱凌轩;高伟;
申请日2021-08-02
分类号G01N21/49(20060101);
代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;
代理人徐雯琼;张妍
地址 200233 上海市闵行区中春路1555号
入库时间 2023-06-19 13:09:01
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-09-19
授权
发明专利权授予
机译: 一种用于测量由试剂在荧光辐射固化涂层中产生的辐射能的荧光强度的方法,特别是用于测量涂层中单体或可辐射固化的低聚物残留量以及测量固化室中氧气浓度的方法
机译: 设备例如散射光测量装置,一种校准方法,涉及使测量值与物质之间发生相关,该物质与样品的吸收系数和散射系数成正比
机译: 一种用于测量大质量的高精度测量装置
机译:超声波流量测量装置:高精度和低运营成本
机译:一种统计方法,可以在微带探测器中校正微带探测器中的X射线响应不均匀性,高精度和高分辨率总散射测量
机译:自旋相关的nd散射长度-一种建议的高精度测量
机译:粒子形状测量气溶胶散射总角度分布的研制。单个粒子光散射角分布的同时测量装置高精度测量的研制 -
机译:一种用于放射治疗的高精度电子小丸装置的设计与制造
机译:一种统计方法可校正微带探测器中X射线响应的不均匀性以进行高精度和高分辨率的总散射测量
机译:双基地微波散射测量装置的优化:从高散射目标到低散射目标
机译:特别考虑液压力测量装置的航空推进系统高精度推力测量。第1部分