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一种多次可编程存储器结构及其制造方法

摘要

本发明提出一种多次可编程存储器结构及其制造方法,包括:衬底;浮栅,位于所述衬底上;选择栅,位于所述衬底上,所述选择栅位于所述浮栅的一侧;栅介质层,位于所述浮栅上;层间介质层,位于所述衬底、所述选择栅和所述栅介质层上;第一类导电插塞和第二类导电插塞,位于所述层间介质层中;第一层金属层,位于所述层间介质层上,所述第一层金属层包括第一金属和第二金属,所述第一金属通过第一类导电插塞与所述栅介质层连接;所述第二金属通过第二类导电插塞与所述选择栅连接;其中,所述第一类导电插塞的径向尺寸大于所述第二类导电插塞的径向尺寸。本发明提出的多次可编程存储器结构及其制造方法可以提高器件的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN113471206A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 晶芯成(北京)科技有限公司;

    申请/专利号CN202111036001.8

  • 发明设计人 秋珉完;金起凖;

    申请日2021-09-06

  • 分类号H01L27/11521(20170101);H01L27/11524(20170101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人王积毅

  • 地址 102199 北京市大兴区经济技术开发区科创十三街29号院一区2号楼13层1302-C54

  • 入库时间 2023-06-19 12:46:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L27/11521 专利申请号:2021110360018 申请公布日:20211001

    发明专利申请公布后的驳回

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