一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法

摘要

本发明涉及一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法，包括骤：搭建亚K低温测试系统，测试待测MKIDs探测器阵列芯片的原始谐振频率响应；保持亚K低温测试系统和待测MKIDs探测器阵列芯片安装状态不变，使用影响像元谐振特性的介质附着在待标定探测器像元的表面；保持亚K低温测试系统不变，重新测试待测MKIDs探测器阵列芯片的谐振频率响应；比对两次实测的探测器阵列谐振频率响应，有频率偏移的谐振即为标定的探测器像元。本发明可解决MKIDs超导探测器阵列部分像元的频率偏移和错位的问题，进而提高MKIDs超导微波动态电感探测器的成像准确性。