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一种去除光刻胶残留物的清洗液

摘要

本发明提供一种去除光刻胶残留物的清洗液,包含:季胺氢氧化物、醇胺、水、消泡剂、以及有机溶剂。本申请的清洗液加入消泡剂后既可以高效去除晶圆上的光刻胶残留物,也可以对铜、铝等金属基本无腐蚀,而且基本不会起泡,又能延长清洗液的使用寿命。在半导体晶片清洗等领域具有良好的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN113009793A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安集微电子科技(上海)股份有限公司;

    申请/专利号CN201911319064.7

  • 申请日2019-12-19

  • 分类号G03F7/42(20060101);

  • 代理机构11352 北京大成律师事务所;

  • 代理人李佳铭;王芳

  • 地址 201201 上海市浦东新区华东路5001号金桥出口加工区(南区)T6-9幢底层

  • 入库时间 2023-06-19 11:32:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/42 专利申请号:2019113190647 申请日:20191219

    实质审查的生效

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