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一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法

摘要

一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法涉及假设检验技术领域,解决了现有高考录取概率建立方法的录取风险高的问题,包括:步骤1、结合历史数据计算当年分数相当于往年的等同分数,获得等同分数序列;步骤2、建立等同分数序列的录取概率模型;步骤3、对步骤2得到的录取概率模型进行一致最优势无偏检验。本发明的一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法在建立录取概率模型后能够检验录取概率是否合理性的高考录取概率建立方法,大幅度降低了录取的风险。

著录项

  • 公开/公告号CN112632470A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江萃文科技有限公司;

    申请/专利号CN202011535764.2

  • 申请日2020-12-23

  • 分类号G06F17/18(20060101);

  • 代理机构22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司;

  • 代理人宁晓丹

  • 地址 313300 浙江省湖州市安吉县昌硕街道安吉大道8号凤凰山西侧7幢4层428室

  • 入库时间 2023-06-19 10:32:14

说明书

技术领域

本发明涉及假设检验技术领域,具体涉及一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法。

背景技术

在如今大数据的时代背景下,许多考生填报志愿的时候,都会选择找一些报考机构或者通过网络平台来报考。面对着网络上的各种高校和专业的录取概率,考生和家长都会质疑这些平台提供的录取概率是否准确,是否是可以真正信赖的。

现在许多平台基本上都是直接显示录取概率的计算结果,它是基于历年分数、批次线、考生规模等多种因素,找出分数满足的分布函数,从而计算得到的。目前很少有对这些计算出的录取概率进行检验的方法,概率本来就是受多因素扰动的,很难做到一定准确,因此需求一种能够检验录取概率是否合理性的高考录取概率建立方法,以降低了录取的风险。

发明内容

为了解决上述问题,本发明提供一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法。

本发明为解决技术问题所采用的技术方案如下:

一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法,包括如下步骤:

步骤1、结合历史数据计算当年分数相当于往年的等同分数,获得等同分数序列;

步骤2、建立等同分数序列的录取概率模型;

步骤3、对步骤2得到的录取概率模型进行一致最优势无偏检验。

本发明的有益效果是:

本发明一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法在建立录取概率模型后能够检验录取概率是否合理性的高考录取概率建立方法,大幅度降低了录取的风险。

附图说明

图1为本发明的一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明做进一步详细说明。

一种基于UMPUT的概率检验的高考录取概率建立方法,如图1,包括如下步骤:

步骤1、结合历史数据计算当年分数相当于往年的等同分数获得等同分数序列;

步骤2、建立等同分数序列的录取概率模型;

步骤3、对概率进行一致最优势无偏检验。

步骤1中历史数据包括参考年份高考的最低录取分数、平均录取分数、考生人数、分数排名以及查找当年和参考年份招生计划中招生人数等数据。参考年份可以是当年之前的某一年或某几年,当年为待测年,等同分数的求法相当于期权价格折现的方法,区别只是本发明这里的折现依据是考生人数、招生计划等数据。将待测年的高考分数转化为对应参考年份高考的等同分数,获得等同分数序列X=(x

步骤2具体为:

计算等同分数序列的样本均值和标准差

其中x

分数整体服从正态分布,加入白噪声来刻画影响录取概率的不确定因素,从而得到录取概率:

其中,ω(s)为白噪声,是布朗运动的导数形式,在物理学中通常描述粒子的不规则运动,在此处用其来刻画不同年份政策等影响录取概率的随机不确定因素;x表示X的函数,X即为变量x的充分统计量。

对于步骤3,等同分数序列满足正态分布,所述步骤3的具体为:对等同分数序列满足的样本均值进行一致最优势无偏检验,对等同分数序列满足的标准差进行一致最优势无偏检验。通过具体举例进行详述:

本发明采用分别对某分数的等同分数序列满足的样本均值和标准差进行一致最优势无偏检验。

以样本均值检验为例,假设检验问题是H

其中θ=nμ/σ

设定有统计量W满足:

U来代表μ的充分统计量,T来代表t的充分统计量,因为U为μ的充分统计量,则对固定的T,W是U的线性函数;且在μ=μ

所以最后得到其拒绝域为{y:|V|≥t

接下来对标准差进行检验,假设检验问题为:H

设定有统计量Z满足:

对固定

因此检验问题的拒绝域为{y:Z<σ

本实施方式中认为:当且仅当V和Z均不在拒绝域时,说明均值和方差在合理范围内,此时录取概率是合理的。

本发明在建立录取概率模型时融入了白噪声来刻画影响录取概率的不确定的因素,最后利用一致最优势无偏检验找到合理的概率区间,从而达到对录取概率进行检验目的,很大程度上减小了报考风险。本发明提供了一种能够检验录取概率是否合理性的高考录取概率建立方法,大幅度降低了录取的风险。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

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