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一种具有盘面在位测量与修整功能的抛光机

摘要

本发明公开了一种具有盘面在位测量与修整功能的抛光机,包括底座、主轴、抛光盘、支撑单元、进给单元、测量单元、修整单元和计算机;所述的进给单元、测量单元与修整单元分别安装在支撑单元上。本发明支持双工位同时抛光加工。进给单元在加工过程中可带动工件沿复杂轨迹运动,从而提高工件与抛光盘接触的均匀性,进而提高抛光精度。测量单元可在位测量抛光盘表面的面形、对抛光机的加工稳定性进行评价,从而指导抛光盘表面的修整或更换。修整单元可以在位修整抛光盘表面,使其面形精度提升,进而保证抛光机的加工精度。本发明实现抛光盘面形的在位修整,使抛光机始终保持良好的加工状态,进而保证工件的面形精度与表面质量、降低废品率。

著录项

  • 公开/公告号CN112157561A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202010822565.3

  • 申请日2020-08-14

  • 分类号B24B29/02(20060101);B24B41/02(20060101);B24B41/04(20060101);B24B47/12(20060101);B24B47/20(20060101);

  • 代理机构21212 大连东方专利代理有限责任公司;

  • 代理人鲁保良;李洪福

  • 地址 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号

  • 入库时间 2023-06-19 09:23:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-29

    授权

    发明专利权授予

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