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化妆流行趋势分析装置、化妆流行趋势分析方法、以及化妆流行趋势分析程序

摘要

具有:对于被实施了化妆后的面部的图像即化妆面部图像,取得面部特征点的面部特征点取得部(340);对于化妆面部图像,取得化妆特征点的化妆特征点取得部(350);基于面部特征点和化妆特征点生成化妆信息的化妆信息生成部(360),该化妆信息定量地表示与以面部特征点为基准的面部坐标系中的化妆特征点的位置相关的信息;分析对于多个化妆面部图像所取得的化妆信息,判定化妆流行趋势的流行趋势分析部(380);以及进行与化妆流行趋势的判定结果相应的信息输出处理的分析结果输出部(390)。

著录项

  • 公开/公告号CN108475403A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下知识产权经营株式会社;

    申请/专利号CN201680079150.3

  • 发明设计人 武井一朗;

    申请日2016-11-22

  • 分类号

  • 代理机构北京市中咨律师事务所;

  • 代理人刘静

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-06-19 06:20:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q50/10 申请日:20161122

    实质审查的生效

  • 2018-08-31

    公开

    公开

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