验证环境图形化的芯片验证方法与装置

摘要

本发明公开了一种验证环境图形化的芯片验证方法与装置，涉及芯片设计流程中的EDA验证领域，方法包括步骤：新建测试用例，按照功能测试点进行分组，通过图形化的方式自动生成芯片验证所需的输入文件，并进行仿真器的参数配置；运行测试用例，直接与仿真器交互，并将仿真器的编译和仿真信息通过图表的形式显示；观察测试结果，如果通过测试，则进行下一个测试用例的验证；如果发现错误用例，则待完成代码的修改后，再进行回归测试。本发明能实现芯片验证的图形化操作和管理，不仅省去了测试人员学习新的验证语言的时间，而且芯片验证的过程也变得简单直观，因此降低了测试人员的学习成本，大大缩短了芯片验证的周期，提高了芯片验证的效率。