嵌入式软件运行时间测试方法

摘要

本发明公开了一种嵌入式软件运行时间测试方法，将被测嵌入式软件代码的前后进行插桩，利用嵌入式芯片可测试的IO口，在被测代码的前端将IO口设置低电平，后端设置高电平，然后用示波器测试该IO口，示波器显示的低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。本发明测试方法操作简便实用、准确度高，软件设计者可轻松测试到软件的运行时间和运行时序，以便及时调整设计方案；用途广泛，可应用于航空航天、智能装备等对实时性要求较高的嵌入式控制系统。