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控制分析仪器中样品污染的方法和设备

摘要

本发明公开一种能够减少分析仪器的测量单元中样品污染的方法和设备。样品单元被界定为密封在第一O形环内的区域。位于所述样品区域的外部是密封并界定密封件洗涤区域为第一和第二O形环之间区域的另一O形环。在流体样品被注入测量单元中之后,该密封件洗涤区域被施加压力,该压力推压第一O形环至其所在凹槽的最深处,当该单元被冲洗并为新样品和相应测量做好准备时,排出任何截留的溶剂并从测量单元的显著的死体积中移除。

著录项

  • 公开/公告号CN105408735A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 怀亚特技术公司;

    申请/专利号CN201480037794.7

  • 发明设计人 S·P·特雷奥夫;

    申请日2014-07-02

  • 分类号G01N21/15;

  • 代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵志刚

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-12-18 14:59:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-03

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):G01N21/15 放弃生效日:20190903 申请日:20140702

    专利权的视为放弃

  • 2016-06-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/15 申请日:20140702

    实质审查的生效

  • 2016-03-16

    公开

    公开

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