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热辅助磁头检查装置以及热辅助磁头检查方法

摘要

热辅助磁头检查装置(1)具备:磁头磁场检测系统(36、37),其根据悬臂(10)的位移量测定热辅助磁头(11)所产生的磁场;近场光检测系统(20),其根据在悬臂位置产生的散射光测定热辅助磁头(11)所产生的近场光;光学系统工作台(2),其搭载近场光检测系统,在二维方向上移动;以及图像显示部,其通过照相机(35)拍摄悬臂和热辅助磁头的位置关系来进行显示。在更换了悬臂时,控制部(4)参照图像显示部计算悬臂的更换造成的位置偏离量,使光学系统工作台(2)移动计算出的位置偏离量。由此,在测定由热辅助磁头产生的磁场和近场光的情况下,即使在更换悬臂时产生位置偏离也会自动地对其进行调整。

著录项

  • 公开/公告号CN105051815A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-11-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立高新技术;

    申请/专利号CN201480017624.2

  • 发明设计人 石井慎次郎;村上真一郎;

    申请日2014-01-22

  • 分类号G11B5/455(20060101);G01Q30/06(20060101);G11B5/31(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人范胜杰;文志

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-18 11:52:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11B5/455 申请公布日:20151111 申请日:20140122

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-12-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11B5/455 申请日:20140122

    实质审查的生效

  • 2015-11-11

    公开

    公开

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