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检测颗粒检测仪光探测器工作点的装置及方法

摘要

本发明公开了一种检测颗粒检测仪光探测器工作点的装置及方法。该装置包括:依据预定位置依次布置的激光器、外调制装置、柱透镜组、样品池、聚焦透镜和光探测器;其中,所述外调制装置用于产生检测信号,并将所述检测信号加载到激光器发出的激光束上;所述装置还包括示波器和处理电路,所述光探测器通过信号线分别与所述示波器、所述处理电路相连接,用于将来自于所述外调制装置的所述检测信号显示到所述示波器上并在所述处理电路上进行处理。基于本发明,可以使光探测器工作在线性工作区,进而能更加精确地进行颗粒检测。

著录项

  • 公开/公告号CN101852712B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-11-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京交通大学;

    申请/专利号CN201010174051.8

  • 申请日2010-05-11

  • 分类号

  • 代理机构北京市商泰律师事务所;

  • 代理人麻吉凤

  • 地址 100044 北京市海淀区西直门外上园村3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/00 授权公告日:20121114 终止日期:20130511 申请日:20100511

    专利权的终止

  • 2012-11-14

    授权

    授权

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/00 申请日:20100511

    实质审查的生效

  • 2010-10-06

    公开

    公开

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