高速二维运动轨迹非接触光电检测新方法

摘要

本发明属于光电系统领域，提供了一种高速二维运动轨迹非接触光电检测新方法。通过CMOS图像传感器不断捕捉基板的图像，经过数字信号处理器时频分析并提取特征值Δx和Δy，保存至寄存器，标记为位置1,等待读取并进行连续标记；USB控制芯片通过SPI总线与光电传感器进行通信,循环查询各位置的Δx值和Δy值,直到查询到位置1,读取位置1的Δx值和Δy值并传输给计算机，经过处理获取光电传感器的运动轨迹和坐标，针对光电传感器的运动轨迹和坐标进行后续的数据处理，最后得到光电传感器的位移和路程。本系统的位移精度为0.09525mm，极限测量速度为361.125mm/s，达到设计要求，具有很好的应用前景。