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一种双波长光纤干涉条纹投射三维形貌动态测量方法

摘要

本发明公开了一种双波长光纤干涉条纹投射三维形貌动态测量方法,涉及三维形貌测量领域,构建双波长光纤干涉条纹投射系统;根据所述双波长光纤干涉条纹投射系统获取三维投射模型;所述双波长光纤干涉条纹投射系统根据所述三维投射模型获取物体表面三维形貌信息。本方法利用杨氏双孔干涉模型、光纤波分复用技术和马赫-泽德非平衡干涉仪结构实现光纤干涉条纹投射,利用光纤端面菲涅尔反射干涉条纹信号实现初始相位的测量,利用激光器电流注入法实现投射条纹相位调制。本发明结构简单,易于实现,提高了测量精度、避免了电压和亮度的非线性关系产生的误差,抗干扰能力强,并具有动态测量与监控能力。

著录项

  • 公开/公告号CN102679908A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201210143259.2

  • 申请日2012-05-10

  • 分类号G01B11/25(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人温国林

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2023-12-18 07:55:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-24

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/25 申请公布日:20120919 申请日:20120510

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-11-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20120510

    实质审查的生效

  • 2012-09-19

    公开

    公开

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