法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-06-19
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L33/44 授权公告日:20151028 终止日期:20170531 申请日:20120531
专利权的终止
2015-10-28
授权
授权
2015-10-28
著录事项变更 IPC(主分类):H01L33/44 变更前: 变更后: 申请日:20120531
著录事项变更
2012-11-28
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/44 申请日:20120531
实质审查的生效
2012-10-03
公开
公开
技术领域
本发明公开了一种取代二、三元系芯片的四元系芯片及其制作方法,属于LED芯片的制造技术领域。
背景技术
二、三元系芯片属于低亮度LED芯片,比四元系芯片亮度低很多,然而应用范围却非常广泛,不可缺少,市场需求量很大。生产二、三元系芯片的原、物料成本较高,生产的工艺过程较为复杂,人力成本、所使用的化学溶液和其他一些物料成本均比生产四元系芯片高。
目前,二、三元系芯片的外延片产地主要在日本,日币又不断的升值,致使二、三元系芯片的原、物料成本显著增加。因此,研发一种新的产品以取代二、三元系芯片势在必行。
发明内容
本发明的目的之一在于克服现有技术中的缺陷,提供了一种取代二、三元系芯片的四元系芯片,该四元系芯片与二、三元系芯片相比,大大节省了原、物料成本,同时也减少了原来生产二、三元芯片繁琐的工艺过程。
本发明的目的之二在于克服现有技术中的缺陷,提供一种取代二、三元系芯片的四元系芯片的制作方法,该工艺生产的四元系芯片可取代二、三元系芯片,且该制作方法简单,生产效率高,适合大批量生产。
为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:
一种取代二、三元系芯片的四元系芯片,包括GaAs基板,GaAs基板的一面设有磊晶层;GaAs基板的另一面镀有负极端;磊晶层上镀有用于吸收光的吸光层,吸光层上沉积有等间距排列设置的正极端。
进一步,吸光层的厚度为大于0m,小于或者等于1×10-7m。
进一步,吸光层为金属薄膜层。
进一步,金属薄膜层为Au薄膜层。
进一步,金属薄膜层为Ti、Al、W、Cu、Ag、Fe或者Cr薄膜层。
进一步,负极端为Au薄膜层。
进一步,正极端为在磊晶层上沉积的等间距排列的BeAu薄膜层及在BeAu薄膜层上沉积的Au薄膜层。
一种取代二、三元系芯片的四元系芯片的制作方法,其特征在于,分为两个步骤,第一步,制造整片芯片,具体包括:
(1)、在GaAs基板上磊晶,形成磊晶层,作为芯片的PN接面;
(2)、将GaAs基板的负极面进行研磨减薄;
(3)、在研磨减薄后的GaAs基板的负极面沉积一层Au薄膜,作为芯片的负极端;
(4)、在磊晶层的上方,镀一层用于遮挡磊晶层发出光线的吸光层;
(5)、在磊晶层上沉积等间距排列的BeAu薄膜层,再在BeAu薄膜层上沉积Au薄膜层,然后经过高温蒸镀,使Au薄膜层与BeAu薄膜层融合在一起,作为LED芯片的正极端;
第二步,分割芯片,具体包括:
(1)、用切割机的金刚石切刀半切芯片,形成切割道;
(2)、沿半切后的切割道将芯片彻底切割成一个个独立的晶粒。
进一步,切割道的深度为25μm 至250μm。
进一步,切割道的深度为60μm。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明的一种取代二、三元系芯片的四元系芯片,在磊晶层上镀吸光层,磊晶层发出的光线在通过吸光层时,一部分光线被吸光层吸收,只有一部分穿过吸光层,从而大大降低了芯片的亮度,从而达到替代二、三元系芯片的目的,其结构简单,节省了人力、化学溶液和其他一些物料的成本,成本较低,制作方法简单,生产效率较高,良品率高,适合大批量生产。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制,在附图中:
图1是本发明的一种取代二、三元系芯片的四元系芯片的结构示意图。
图2是本发明的一种取代二、三元系芯片的四元系芯片的半切状态示意图。
图3是本发明的一种取代二、三元系芯片的四元系芯片的全切状态示意图。
图1中包括有以下部件:
1——负极端、
2——GaAs基板、
3——磊晶层、
4——吸光层、
5——正极端、
6——切割道。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明的一种取代二、三元系芯片的四元系芯片如图1至图3所示,包括GaAs基板2,GaAs基板2的一面设有磊晶层3;GaAs基板2的另一面镀有负极端1;磊晶层3上镀有用于吸收光的吸光层4,吸光层4上沉积有等间距排列设置的正极端5。
吸光层4的厚度为大于0m,小于或者等于1×10-7m。吸光层4的厚度根据所需光线的强弱来决定,需要的芯片亮度较暗,则吸光层4厚度较厚;需要的芯片亮度较亮,则吸光层4的厚度较薄。
吸光层4为金属薄膜层。光线从金属薄膜透射出来,较为均匀、柔和。
金属薄膜层为Au薄膜层。Au薄膜层的吸光效率较高,吸光效果较好,作为首选吸光层4的材料。
金属薄膜层为Ti、Al、W、Cu、Ag、Fe或者Cr薄膜层。只要是透光的金属薄膜均可以作为吸光层4。
负极端1为Au薄膜层。
正极端5为在磊晶层3上沉积的等间距排列的BeAu薄膜层及在BeAu薄膜层上沉积的Au薄膜层。
一种取代二、三元系芯片的四元系芯片的制作方法,其特征在于,分为两个步骤,第一步,制造整片芯片,具体包括:
(1)、在GaAs基板2上磊晶,形成磊晶层3,作为芯片的PN接面;
(2)、将GaAs基板2的负极面进行研磨减薄;
(3)、在研磨减薄后的GaAs基板2的负极面沉积一层Au薄膜,作为芯片的负极端1;
(4)、在磊晶层3的上方,镀一层用于遮挡磊晶层3发出光线的吸光层4;
(5)、在磊晶层3上沉积等间距排列的BeAu薄膜层,再在BeAu薄膜层上沉积Au薄膜层,然后经过高温蒸镀,使Au薄膜层与BeAu薄膜层融合在一起,作为LED芯片的正极端5;
第二步,分割芯片,具体包括:
(1)、用切割机的金刚石切刀半切芯片,形成切割道6;
(2)、沿半切后的切割道6将芯片彻底切割成一个个独立的晶粒。
切割道6的深度为25μm 至250μm之间。
切割道6的最佳深度为60μm。即刚好将磊晶层3全部切断,GaAs基板2不完全切断,留有切割道6。
本发明的一种取代二、三元系芯片的四元系芯片,在磊晶层3上镀吸光层4,磊晶层3发出的光线在通过吸光层4时,一部分光线被吸光层4吸收,只有一部分穿过吸光层4,从而大大降低了芯片的亮度,从而达到替代二、三元系芯片的目的,其结构简单,节省了人力、化学溶液和其他一些物料的成本,成本较低,制作方法简单,生产效率较高,良品率高,适合大批量生产。
最后应说明的是:以上仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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