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对PDSOI器件单粒子翻转的仿真分析电路

摘要

公开了一种对PDSOI器件单粒子翻转的仿真分析电路包括带电流源的三极管模型和NMOS管;所述三极管模型并联到所述NMOS管上;所述三极管模型的三极管的发射极连接所述NMOS管源极,基极连接所述NMOS管体引出,集电极连接所述NMOS管漏极。本发明通过采用由带电流源的三极管模型和NMOS管等构成的仿真分析电路,提供了一种针对PDSOI器件单粒子翻转仿真分析方法,实现了利用电路仿真代替TCAD二维仿真分析单粒子翻转效应,加大了单粒子翻转分析对象的规模,并使得分析更加快捷,很大程度提高工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN102479270A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201010566061.6

  • 发明设计人 范紫菡;毕津顺;罗家俊;

    申请日2010-11-29

  • 分类号

  • 代理机构北京市德权律师事务所;

  • 代理人王建国

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所

  • 入库时间 2023-12-18 05:25:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-16

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20120530 申请日:20101129

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2012-07-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20101129

    实质审查的生效

  • 2012-05-30

    公开

    公开

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